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SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試,將老化與電參數(shù)測試結(jié)合,在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
老化測試系統(tǒng)提供對X波段大功率微波管的高低溫動態(tài)老化,該器件額定電壓70V、脈沖電流140A、功率為1500W和4500W、激勵的射頻信號為8-10GHZ。
DC/DC電源模塊參數(shù)測試系統(tǒng)聚集了多年電子測試經(jīng)驗和專業(yè)知識,是可靠、精準(zhǔn)、自動、高效的電源測試系統(tǒng)。模塊化的硬件架構(gòu)能夠提供靈活多變的硬件組合,系統(tǒng)配置更為合理,系統(tǒng)包括程控電源供應(yīng)器、電子負(fù)載、數(shù)字萬用表、示波 器等,在硬件上真正滿足任何形式的電源模塊測試要求。
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)采用了標(biāo)準(zhǔn)的PXI總線,能夠兼容CPCI和PXI設(shè)備。它是一款浮動資源的測試工作站,這種特殊的架構(gòu)方式使得用戶可以有效的利用系統(tǒng)資源,配置出經(jīng)濟、高效的測試系統(tǒng)。測試原理符合相的國家標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)。
大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)具備高性價比,高吞吐量的集成電路測試系統(tǒng)平臺, 外形尺寸600mmx750mm x 600mm(TBD),最高配置512個通道,為實燕室開發(fā)或大批量生產(chǎn)的理想選擇。
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