F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x
型 號(hào)
所屬分類實(shí)驗(yàn)室儀器
報(bào)價(jià)
更新時(shí)間2024-10-31
產(chǎn)品描述：F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x：依靠F50的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非?？焖伲蠹s每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非?？焖?，大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置精度高使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái)，以求能夠做成千上萬次測(cè)量。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測(cè)試點(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x可測(cè)樣品膜層
基本上光滑的，非金屬的薄膜可以測(cè)量。可測(cè)樣品包括：
- 上一個(gè)： Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀
- 下一個(gè)： KLA探針式臺(tái)階儀P-7