全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀樣品中全部元素在全譜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)同步采集；
采用中階梯二維分光技術(shù)，減小光譜干擾引起的誤差，滿足檢測各種復(fù)雜樣品的需要；

產(chǎn)品型號(hào)：SD-ICP-7760HP

更新時(shí)間：2024-11-17

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

EWAI產(chǎn)品系列

形態(tài)分析儀電感耦合等離子體光譜儀 TopLIMS實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng) 車載儀器系列煤炭行業(yè)專用儀器 X射線熒光光譜系列原子熒光光度計(jì) 原子吸收分光光度計(jì) 離子色譜系列液相色譜系列氣相色譜系列質(zhì)譜系列

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產(chǎn)品介紹

采用百萬像素防溢出科學(xué)CCD，提高了定性與定量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度，同時(shí)該設(shè)計(jì)在痕量分析中可提高信噪比，降低檢出限；

無需配置標(biāo)準(zhǔn)溶液，即可實(shí)現(xiàn)定性分析；

在樣品量有限的情況下也可以實(shí)現(xiàn)未知樣品的全元素檢測；

檢測時(shí)間縮短，氬氣消耗減少，降低運(yùn)行成本；

可以先采集樣品光譜信號(hào)，事后再追加分析元素；

背景信號(hào)與待測元素光譜信號(hào)實(shí)現(xiàn)同步采集，提高了分析準(zhǔn)確度；

通過電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制對(duì)光源位置和觀測高度進(jìn)行快速優(yōu)化，從而獲得強(qiáng)的光譜信號(hào)；

通過實(shí)時(shí)監(jiān)測光譜信號(hào)，快速對(duì)儀器參數(shù)和分析參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化。

上一個(gè)：SD-TopLIMSTopLIMS實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)